Трансформація структури при нагріванні та механізм термічного розширення евтектики Sn-Bi

Abstract

Методом високотемпературної рентгенівської дифрактометрії та оберненим методом Монте-Карло досліджено структуру ближнього порядку рідкої евтектики Sn-Bi в інтервалі температур 420 – 1120 К. Отримано температурні залежності міжатомних відстаней в межах першої координаційної сфери та об’ємного коефіцієнта термічного розширення. Використовуючи формалізм статистично-геометричного методу Вороного-Делоне досліджено зміну вільного об’єму зі зміною температури. Проведені дослідження дали змогу встановити наявність розмитого структурного перетворення рідкої евтектики і визначити температурну межу цього перетворення. Результати досліджень можуть бути використані для вдосконалення технології формування паяних з’єднань в електроніці та інших суміжних галузях.