Дослідження електронної структури графенових нанолистів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії

Abstract

Дослідження графенових нанолистів та окислених графенових нанолистів, було проведене методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (РФС). На додаток до рентгенівської фотоелектронної спектроскопії зразки досліджували методами скануючої та просвічуючуючщї мікроскопії. Встановлено, що аргонне бомбардування усуває функціональні карбоксильні та епоксидні групи зі зразків. Відсутність емісійних ОKα-смуг в ОГНЛ та ГНЛ пов’язана з видаленням зі зразка кисню в результаті електронного бомбардування при дослідженні зразка методом ультрам‘якої рентгенівської емісійної спектроскопії.