1. Precarpathian National University Repository
  2. Періодичні видання ПНУ
  3. Наукові журнали
  4. Фізика і хімія твердого тіла
  5. 2020
  6. Т.21 № 1
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/6332
Title: Моделювання спектральної залежності коефіцієнта пропускання напівпровідникових тонких плівок
Other Titles: Simulation the spectral dependence of the transmittance for semiconductor thin films
Authors: Ільчук, Григорій Архипович
Кашуба, Андрій Іванович
Петрусь, Роман Юрійович
Семків, Ігор Володимирович
Українець, Наталія Андріївна
Keywords: ширина забороненої зони
оптичні функції
тонкі плівки
коефіцієнт відбивання
Issue Date: 2020
Publisher: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Citation: Ільчук Г. А. Моделювання спектральної залежності коефіцієнта пропускання напівпровідникових тонких плівок / Г. А. Ільчук, А. І. Кашуба, Р. Ю. Петрусь, І. В. Семків, Н. А. Українець // Фізика і хімія твердого тіла. - 2020. - Т. 21. - № 1. - С. 57-60.
Abstract: Використовуючи умову інтерференційних екстремумів визначено спектральну залежність коефіцієнта пропускання, як функцію товщини плівки, показника заломлення підкладки, ширини забороненої зони та параметрів Коші (α і β) напівпровідникових тонких плівок. Проведено моделювання коефіцієнта пропускання для структури – тонка плівка/підкладка. В якості модельних зразків обрано халькогеніди кадмію (CdTe, CdSe та CdS) осаджені на кварцові підкладки. Коефіцієнт пропускання підкладки встановлено експериментально для визначення його показника заломлення. Проводиться порівняння теоретичних результатів із експериментальними даними та вказується на хорошу збіжність.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/6332
Appears in Collections:Т.21 № 1

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
4307-13006-1-PB.pdf582.48 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.