Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/544
Назва: Вплив жорсткого ультрафіолету на структуру та оптичні властивості шарів CdS та CdTe
Інші назви: Structure and Optical Properties of CdTe and CdS Thin Films after Hard Ultraviolet Irradiation
Автори: Копач, Галина Іванівна
Доброжан, А. І.
Хрипунов, Геннадій Семенович
Мигущенко, Руслан Павлович
Кропачек, Ольга Юріївна
Зайцев, Р. В.
Меріуц, А. В.
Ключові слова: телурид кадмію
сульфід кадмію
неімпульсне магнетронне розпилення на постійному струмі
жорсткий ультрафіолет
тонкі плівки
Дата публікації: 2019
Бібліографічний опис: Копач Г. І. Вплив жорсткого ультрафіолету на структуру та оптичні властивості шарів CdS та CdTe / Г. І. Копач, А. І. Доброжан, Г. С. Хрипунов, Р. П. Мигущенко, О. Ю. Кропачек, Р. В. Зайцев, А. В. Меріуц // Фізика і хімія твердого тіла. - 2019. - Т. 20. - № 2. - С. 165-170.
Короткий огляд (реферат): Досліджено вплив жорсткого ультрафіолетового випромінювання на кристалічну структуру, морфологію поверхні та оптичні характеристики напівпровідникових шарів CdS та CdTe, отриманих магнетронним розпиленням на постійному струмі. Встановлено, що оптичні характеристики досліджених плівок CdS та CdTe нечутливі до опромінення жорстким ультрафіолетом. Кристалічна структура шарів плівок CdS і CdTe після опромінення змінюються. Період гратки для плівок сульфіду кадмію збільшується від с = 6,77(01) Å до с = 6,78(88) Å, що може бути пов’язано з утворенням точкових дефектів та дефектних комплексів. В результаті опромінення жорстким ультрафіолетом спостерігається зменшення ширини піків на рентгендифрактограмах шарів CdS і CdTe, що пов’язано зі збільшенням областей когерентного розсіювання в результаті часткової рекристалізації приповерхневих шарів досліджених плівок.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/544
Розташовується у зібраннях:Т.20, №2

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
3836-11486-1-PB.pdf900.63 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.