Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/4760
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Фреїк, Дмитро Михайлович | - |
dc.contributor.author | Прокопів, Володимир Васильович | - |
dc.contributor.author | Нич, Андрій Богданович | - |
dc.contributor.author | Шепетюк, Володимир Андрійович | - |
dc.contributor.author | Тітова, Любов Василівна | - |
dc.date.accessioned | 2020-04-09T14:27:50Z | - |
dc.date.available | 2020-04-09T14:27:50Z | - |
dc.date.issued | 1997 | - |
dc.identifier.citation | Materials Science and Engineering B48 (1997) 226-228 | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/4760 | - |
dc.description.abstract | We have determined the technological factors in the hot wall technique that determine the conditions of PbTe thin films with pre-assigned parameters. We have proposed the model that describes the processes of growth of PbTe thin films from the vapour phase. The general equations, that set the connection between the charge carriers concentration (I1), inversion (n-p transition) temperature (T*) of precipitation, evaporation temperature (T~) of the sample, the pressure of the vapour of the components (PTe) and condensation temperature (T~) have been obtained. We have shown that the formation of defects like PbTei + - V2g - is predominant in PbTe thin films grown from the vapour phase. | uk_UA |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.relation.ispartofseries | Materials Science and Engineering B;48(2) 226-228 (1997) | - |
dc.subject | Directed synthesis; PbTe; Hot wall technique | uk_UA |
dc.title | Directed synthesis and formation of the defects in thin films PbTe | uk_UA |
dc.title.alternative | Стаття | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Розташовується у зібраннях: | Статті та тези (ФТФ) |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
1-s2.0-S0921510797000561-main.pdf | 223.53 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.