DSpace JSPUI
DSpace зберігає і дозволяє легкий і відкритий доступ до всіх видів цифрового контенту, включаючи текст, зображення, анімовані зображення, MPEG і набори даних
Дізнатися більше
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/4193| Назва: | Метод часу релаксації та варіаційний підхід у аналізі явищ переносу у напівпровідниках AIVBVI |
| Автори: | Возняк, Орест Михайлович Фреїк, Дмитро Михайлович Никируй, Любомир Іванович Ільків, Олег Іванович |
| Ключові слова: | напівпровідники AIVBVI, механізми розсіювання, рухливість носіїв заряду, метод часу релаксації, варіаційний підхід |
| Дата публікації: | 2007 |
| Бібліографічний опис: | Д.М. Фреїк, Л.І. Никируй, О.І. Ільків, О.М. Возняк Метод часу релаксації та варіаційний підхід у аналізі явищ переносу у напівпровідниках AIVBVI // ФІЗИКА І ХІМІЯ ТВЕРДОГО ТІЛА. - 2007. - Т. 8, № 3.- С. 451-456 |
| Короткий огляд (реферат): | Виконано порівняльний аналіз різних теоретичних наближень, які використовують для розв’язання рівняння Больцмана при дослідженні механізмів розсіювання носіїв заряду у напівпровідниках AIVBVI: метод часу релаксації та варіаційний підхід. Визначено концентраційні та температурні межі домінування окремих механізмів розсіювання носіїв заряду. Вказана переваги кожного із розглядуваних підходів. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/4193 |
| Розташовується у зібраннях: | Статті та тези (ФТФ) |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 0803-02.pdf | 370.84 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.