Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/3436
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorФреїк, Дмитро Михайлович-
dc.contributor.authorПрокопів, Володимир Васильович-
dc.contributor.authorРувінський, Борис Маркович-
dc.contributor.authorКозич, Олег Васильович-
dc.contributor.authorПиц, Михайло Васильович-
dc.date.accessioned2020-04-01T09:03:32Z-
dc.date.available2020-04-01T09:03:32Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationФотоэлектроника. 2000. Вып. 9. С. 40-42.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/3436-
dc.language.isoru_RUuk_UA
dc.relation.ispartofseriesФотоэлектроника;2000. Вып. 9. С. 40-42.-
dc.titleВлияние условий выращивания на дефектную подсистему в пленках теллурида свинцаuk_UA
dc.title.alternativeСтаттяuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Статті та тези (ФТФ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Фотоэлектроника. – 2000. – Вып. 9. – С. 40-42.pdf142.22 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.