Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/15959
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГаджієва, Н. Н.-
dc.contributor.authorАхмадова, Г. Б.-
dc.contributor.authorМелікова, С. З.-
dc.contributor.authorАсадов, Ф. Г.-
dc.date.accessioned2023-03-28T09:22:05Z-
dc.date.available2023-03-28T09:22:05Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationГаджієва Н. Н. Рентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te> / Н. Н. Гаджієва, Г. Б. Ахмадова, С. З. Мелікова, Ф. Г. Асадов // Фізика і хімія твердого тіла. - 2023. - Т. 24. - № 1. - С. 23-25.uk_UA
dc.identifier.other10.15330/pcss.24.1.23-25-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/15959-
dc.description.abstractЛисти поліетилену високої щільності (HDPE), композити HDPE/GaAs і HDPE/ GaAs<Te> з напівпровідниковими наповнювачами GaAs і GaAs<Te> досліджували методом рентгенівської дифрактометрії при кімнатній температурі. Розраховано ступінь кристалізації цих зразків і встановлено, що включення до полімерної матриці наповнювачів (х=1-10% складу) призводить до збільшення ступеня кристалізації в 1,3-1,4 рази. Отримані результати пояснюються зміною високої молекулярної структури полімеру.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherПрикарпатський національний університет імені Василя Стефаникаuk_UA
dc.subjectкомпозитиuk_UA
dc.subjectGaAs<Te>uk_UA
dc.subjectполіетилен високої щільностіuk_UA
dc.subjectметод рентгенівської дифрактометріїuk_UA
dc.titleРентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te>uk_UA
dc.title.alternativeX-ray diffractometric study of HDPE/GaAs and HDPE/GaAs<Te> compositesuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 24, № 1

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
6346-Текст статті-19066-2-10-20230223.pdf470.98 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.