DSpace JSPUI
DSpace зберігає і дозволяє легкий і відкритий доступ до всіх видів цифрового контенту, включаючи текст, зображення, анімовані зображення, MPEG і набори даних
Дізнатися більше
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/15959| Назва: | Рентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te> |
| Інші назви: | X-ray diffractometric study of HDPE/GaAs and HDPE/GaAs<Te> composites |
| Автори: | Гаджієва, Н. Н. Ахмадова, Г. Б. Мелікова, С. З. Асадов, Ф. Г. |
| Ключові слова: | композити GaAs<Te> поліетилен високої щільності метод рентгенівської дифрактометрії |
| Дата публікації: | 2023 |
| Видавництво: | Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника |
| Бібліографічний опис: | Гаджієва Н. Н. Рентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te> / Н. Н. Гаджієва, Г. Б. Ахмадова, С. З. Мелікова, Ф. Г. Асадов // Фізика і хімія твердого тіла. - 2023. - Т. 24. - № 1. - С. 23-25. |
| Короткий огляд (реферат): | Листи поліетилену високої щільності (HDPE), композити HDPE/GaAs і HDPE/ GaAs<Te> з напівпровідниковими наповнювачами GaAs і GaAs<Te> досліджували методом рентгенівської дифрактометрії при кімнатній температурі. Розраховано ступінь кристалізації цих зразків і встановлено, що включення до полімерної матриці наповнювачів (х=1-10% складу) призводить до збільшення ступеня кристалізації в 1,3-1,4 рази. Отримані результати пояснюються зміною високої молекулярної структури полімеру. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/15959 |
| Розташовується у зібраннях: | Т. 24, № 1 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 6346-Текст статті-19066-2-10-20230223.pdf | 470.98 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.