Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/13174
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorОстафійчук, Богдан Костянтинович-
dc.contributor.authorЯремій, Іван Петрович-
dc.contributor.authorЯремій, Софія Іванівна-
dc.contributor.authorТомин, Уляна Олексіївна-
dc.date.accessioned2022-11-07T10:34:53Z-
dc.date.available2022-11-07T10:34:53Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationОстафійчук Б. К., Яремій І. П., Яремій С. І., Томин У. О. Можливості атомної спектроскопії при аналізі рідких проб та нанопористих вуглецевих матеріалів // Вісник Прикарпатського університету. Серія: Фізика. Функціональні матеріали. – 2012. – Вип. 2. – C. 89-100.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/13174-
dc.description.abstractПроведено порівняльний аналіз можливостей спектрометрів, робота яких базується на різних методах атомного спектрального аналізу, з можливостями нового апарата цього класу - атомно-емісійним спектрометром українського виробництва СЕВ-30. Показано можливість застосування спектрометра СЕВ-30 для аналізу нанопористих вуглецевих матеріалів та рідких проб на вміст металів.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherПрикарпатський національний університет імені Василя Стефаникаuk_UA
dc.subjectатомний спектральний аналізuk_UA
dc.subjectспектрометрuk_UA
dc.subjectатомізаторuk_UA
dc.titleМожливості атомної спектроскопії при аналізі рідких проб та нанопористих вуглецевих матеріалівuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:№ 2



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.