Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/13174
Назва: Можливості атомної спектроскопії при аналізі рідких проб та нанопористих вуглецевих матеріалів
Автори: Остафійчук, Богдан Костянтинович
Яремій, Іван Петрович
Яремій, Софія Іванівна
Томин, Уляна Олексіївна
Ключові слова: атомний спектральний аналіз
спектрометр
атомізатор
Дата публікації: 2012
Видавництво: Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника
Бібліографічний опис: Остафійчук Б. К., Яремій І. П., Яремій С. І., Томин У. О. Можливості атомної спектроскопії при аналізі рідких проб та нанопористих вуглецевих матеріалів // Вісник Прикарпатського університету. Серія: Фізика. Функціональні матеріали. – 2012. – Вип. 2. – C. 89-100.
Короткий огляд (реферат): Проведено порівняльний аналіз можливостей спектрометрів, робота яких базується на різних методах атомного спектрального аналізу, з можливостями нового апарата цього класу - атомно-емісійним спектрометром українського виробництва СЕВ-30. Показано можливість застосування спектрометра СЕВ-30 для аналізу нанопористих вуглецевих матеріалів та рідких проб на вміст металів.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/13174
Розташовується у зібраннях:№ 2

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Остафійчук Б.К., Яремій І.П., Яремій С.І., Томин У.О. С.89-100.pdf477.04 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.