Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/1078
Назва: Топологія та фотоелектричні властивості гетероструктури p-GaTe – n-InSe
Інші назви: Topology and Photoelectric Properties of Heterostructure p-GaTe – n-InSe
Автори: Катеринчук, Валерій Миколайович
Кушнір, Б. В.
Кудринський, Захар Русланович
Ковалюк, Захар Дмитрович
Ткачук, Іван Георгійович
Литвин, Оксана Степанівна
Ключові слова: шаруваті кристали
гетеропереходи
АСМ-зображення
спектральні характеристики
Дата публікації: 2016
Видавництво: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Бібліографічний опис: Катеринчук В. М. Топологія та фотоелектричні властивості гетероструктури p-GaTe – n-InSe / В. М. Катеринчук, Б. В. Кушнір, З. Р. Кудринський, З. Д. Ковалюк, І. Г. Ткачук, О. С. Литвин // Фізика і хімія твердого тіла. - 2016. - Т. 17. - № 4. - С. 507-510.
Короткий огляд (реферат): Досліджені фотоелектричні властивості гетеропереходів p-GaTe – n-InSe, що сформовані методом механічного контакту окисленої пластини GaTe з ван-дер-ваальсовою поверхнею InSe. За допомогою АСМ-зображень встановлено, що на гетерограниці p-GaTe – n-InSe присутній тонкий діелектричний шар власного оксиду Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>. Побудована енергетична зонна діаграма гетеропереходу. Встановлено, що гетероперехід p-GaTe – n-InSe володіє фоточутливістю в діапазоні 0,74 - 1,0 мкм.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/1078
Розташовується у зібраннях:Т. 17, № 4

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
1232-5955-1-PB.pdf1.01 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.