Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/10763
Title: Крайове поглинання тонких плівок ZnGa2O4
Other Titles: Edge Absorption of Thin Films ZnGa2O4
Authors: Бордун, Олег Михайлович
Бігдай, В. Г.
Кухарський, Ігор Йосифович
Keywords: галат цинку
тонкі плівки
спектри
катодолюмінісценція
Issue Date: 2013
Publisher: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Citation: Бордун О. М. Крайове поглинання тонких плівок ZnGa2O4 / О. М. Бордун, В. Г. Бігдай, І. Й. Кухарський // Фізика і хімія твердого тіла. - 2013. - Т. 14. - № 1. - С. 92-96.
Abstract: Методом оптичної спектроскопії досліджено область фундаментального поглинання тонких плівок ZnGa2O4, отриманих методом високочастотного іонно-плазмового розпилення. Встановлено, що оптична ширина забороненої зони Eg зростає від 4,81 до 4,98 еВ після відновлення відпалених плівок у атмосфері водню. Оцінено зведену ефективну масу вільних носіїв заряду у плівках ZnGa2O4 після відпалу плівок та після відновлення у водні. Встановлено, що концентрація носіїв заряду після відновлення у водні, становить 8,16´1018 см–3 , що характерне для вироджених напівпровідників. Показано, що зсув краю фундаментального поглинання в тонких плівках ZnGa2O4 після відновлення у водні зумовлений ефектом Бурштейна-Мосса.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/10763
Appears in Collections:Т. 14, № 1

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1401-13.pdf145.03 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.