Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/10717
Назва: Структура і явища переносу у плівках Pb18Ag2-xSbxTe20 (LAST) на ситалі
Інші назви: Structure and Transport Phenomena in films Pb18Ag2-xSbxTe20 (LAST) on Sital Substrate
Автори: Фреїк, Дмитро Михайлович
Дзундза, Богдан Степанович
Мудрий, Степан Іванович
Костюк, Оксана Богданівна
Маковишин, Володимир Ігорович
Яворський, Ростислав Святославович
Криськов, У. А.
Семко, Тарас Олегович
Ключові слова: розсіювання носіїв
рухливість
наноструктура
поверхня
Дата публікації: 2014
Видавництво: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Бібліографічний опис: Фреїк Д. М. Структура і явища переносу у плівках Pb18Ag2-xSbxTe20 (LAST) на ситалі / Д. М. Фреїк, Б. С. Дзундза, С. І. Мудрий, О. Б. Костюк, В. І Маковишин, Р. С. Яворський, У. А. Криськов, Т. О. Семко // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 4. - С. 752-757.
Короткий огляд (реферат): Досліджено вплив товщини тонких плівок на основі сполук Pb18Ag2-xSbxTe20 (x=0,5; 1,0; 1,5), осаджених на ситалових підкладках на їх структуру і механізми розсіювання носіїв струму. Встановлено, що домінуючу роль відіграє розсіювання носіїв струму на поверхні зумовлене збільшенням розмірів нанокристалітів із товщиною парофазних структур .
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/10717
Розташовується у зібраннях:Т. 15, № 4

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
!1504-11.pdf542.85 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.