DSpace JSPUI
DSpace preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/10708| Title: | Вплив флуктуацій товщини на електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту |
| Other Titles: | The Influence of Thickness Fluctuations on the Electroconductivity and Thermopower of Quantum Semiconductor Wire |
| Authors: | Рувінський, Борис Маркович Рувінський, Марк Аунович |
| Keywords: | квантовий напівпровідниковий дріт гауссові флуктуації товщини електропровідність термоерс |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
| Citation: | Рувінський Б. М. Вплив флуктуацій товщини на електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту / Б. М. Рувінський, М. А. Рувінський // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 4. - С. 689-692. |
| Abstract: | Визначено електропровідність і термоерс квантового напівпровідникового дроту, зумовлені випадковим полем гауссівських флуктуацій товщини дроту. Результати наведено для випадків невиродженої і виродженої статистики носіїв струму. Показано, що розглянутий механізм релаксації носіїв заряду є суттєвим для достатньо тонкого і чистого дроту з GaAs при низьких температурах і допускає принципову можливість підвищення величини термоерс порівняно з випадком масивного тривимірного зразка. |
| URI: | http://hdl.handle.net/123456789/10708 |
| Appears in Collections: | Т. 15, № 4 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| !1504-02.pdf | 120.43 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.