Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/10425
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Махній, Віктор Петрович | - |
dc.contributor.author | Ткаченко, Ірина Володимирівна | - |
dc.contributor.author | Черних, Олександр Іванович | - |
dc.contributor.author | Павлюк, Мирослав Федорович | - |
dc.date.accessioned | 2021-07-01T08:14:45Z | - |
dc.date.available | 2021-07-01T08:14:45Z | - |
dc.date.issued | 2014 | - |
dc.identifier.citation | Махній В. П. Моделювання процесів дефектоутворення в кристалах ZnSe з ізовалентною домішкою Mg / В. П. Махній, І. В. Ткаченко, О. І. Черних, М. Ф. Павлюк // Фізика і хімія твердого тіла. - 2014. - Т. 15. - № 3. - С. 548-551. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/10425 | - |
dc.description.abstract | Методом квазіхімічних реакцій проведено розрахунок концентрацій рівноважних дефектів у кристалах ZnSe, легованих ізовалентною домішкою Mg. Встановлено, що у кристалах ZnSe:Mg домінують однозарядні вакансії цинку і селену, а також міжвузловинний селен. Провідність при цьому залишається дірковою при зміні температури легування Ta у межах 373-1273 К, а концентрація дірок зростає при зменшенні Ta і збільшенні концентрації введеного Mg. | uk_UA |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | квазіхімічні реакції | uk_UA |
dc.subject | рівноважні дефекти | uk_UA |
dc.subject | ізовалентна домішка | uk_UA |
dc.subject | схема Шотткі | uk_UA |
dc.title | Моделювання процесів дефектоутворення в кристалах ZnSe з ізовалентною домішкою Mg | uk_UA |
dc.title.alternative | The Defects Modeling in ZnSe Crystals with Isovalent Mg Impurity | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Т. 15, № 3 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
!1503-15.pdf | 135.44 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.